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首页>设备信息> 半导体纳米器件参数测试系统 返回
设备名称
半导体纳米器件参数测试系统
英文名称
内部编号
2009027
服务领域
电子与测量
设备分类大类
设备分类中类
设备分类小类
设备分类编码
原值
¥ 47.00 万元
海关监管情况
规格型号
4200
产地国别
美国
学科领域
启用日期
2010-03-10
收费标准
¥ 280 元/ 按时
共享优惠价
¥ 0 元/ 按时
主要功能
Keithley-4200半导体纳米器件参数测试系统用于实验室级的器件直流...
生产制造商
Keithley-4200
服务内容
I-V,I-C曲线测试
安放地址
福建省厦门市思明区软件园二期观日路34号之一101
联系人
李雄滔
联系电话
18649683868
电子邮箱
xtli@xmicc.gov.cn
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可用时间
注:绿色标记代表可用;灰色标记代表不可用;部分灰色、部分绿色代表部分可用。具体时间与所在单位确认